Stoerfestigkeit von Fahrzeug-Elektronik bezueglich ESD und Impulseinkopplung

Fuer die Elektronik im Fahrzeug gibt es eine Vielzahl von Stoerquellen, die leitungsgebundene Stoergroessen emittieren. Bei der Betrachtung der elektromagnetischen Vertraeglichkeit spielen die Halbleiterschaltkreise eine zentrale Rolle, da sie fuer alle auftretenden Stoerungen entweder Stoerquelle oder Stoersenke beziehungsweise beides sind. Abhaengig von der Konfiguration der Uebertragungsstrecke ergeben sich unterschiedliche Uebertragungscharakteristiken, welche die resultierenden Stoergroessen am Pin des Schaltkreises und damit die Stoerfestigkeit bestimmen. Fuer die Betrachtung der Uebertragungscharakteristik wird der Koppelpfad aufgeteilt in Stoerquelle, Koppelpfad, Stoersenke. Im Rahmen des Berichtes wird folgender Ablauf eingeschlagen: Analyse der typischen Fahrzeugstoerer mit Einteilung der Koppelpfadabschnitte sowie der Parametrierung der Abschnitte, Komponententests mit ausgewaehlten Steuergeraeten, Entkoppeulng von Stoerimpulsen in die einzelnen Koppelpfade, Gegenueberstellung der Ergebnisse, Analyse der relevanten Parameter der Messverfahren, Erarbeitung von Vorschlaegen zur Verbesserung der Messverfahren sowie Ableitung von Design-Richtlinien zur Verbesserung der Stoerfestigkeit gegenueber Transienten und Electrostatic Discharge (ESD) auf Fahrzeug- und Steuergeraet-Ebene. Forschungsprojekt im Auftrag der Forschungsvereinigung Automobiltechnik e.V., Frankfurt/Main.

  • Authors:
    • KOERBER, B
    • MUELLER, M
    • TREBECK, M
  • Publication Date: 2007

Language

  • German

Media Info

  • Pagination: 160S
  • Serial:
    • FAT-Schriftenreihe
    • Issue Number: 213
    • Publisher: Forschungsvereinigung Automobiltechnik e.V. (FAT)

Subject/Index Terms

Filing Info

  • Accession Number: 01178019
  • Record Type: Publication
  • Source Agency: Bundesanstalt für Straßenwesen (BASt)
  • Files: ITRD
  • Created Date: Oct 6 2010 4:39PM